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“吃透”发射率,红外热像仪测温才准确

    红外热像仪通过探测物体发出的红外辐射来测量其表面温度。然而,不同材料的红外辐射特性不同,因此需要考虑目标物体的发射率参数。

    发射率是指物体表面发射的辐射能量与一个理想黑体表面发射的辐射能量之间的比值。理想黑体的发射率为1,而其他物体的发射率一般在0到1之间。不同材料的发射率不同,甚至相同材料的发射率也可能因温度、表面处理或纹理而变化。

    在使用红外热像仪进行温度测量时,需要将目标物体的发射率设置为正确的值,以准确地计算出其表面温度。如果未考虑或错误地设置了发射率,测量结果可能会产生偏差。

    要准确测量温度,可以采取以下步骤:

    了解目标物体的材料特性和表面处理情况。不同材料的发射率一般可以在文献或相关数据表中找到。

    根据目标物体的材料,选择适当的发射率数值。红外热像仪通常提供发射率调节功能,可以手动设置发射率值。

    如果目标物体的表面有特殊处理或纹理,需要特别注意。这些因素可能影响物体的发射率,需要进行适当的修正。

    在测量之前,将红外热像仪的发射率设置为目标物体的发射率值。这通常可以在设备的菜单或设置中完成。

    进行温度测量时,确保红外热像仪与目标物体之间没有干扰物,如玻璃或塑料。这些物体可能会反射周围环境的热辐射,干扰测量结果。




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